試驗(yàn)箱簡(jiǎn)介及箱體結(jié)構(gòu)：
簡(jiǎn)介
真菌在土壤中及各種材料上生長(zhǎng)，產(chǎn)生孢子而傳播。孢子脫離母體發(fā)芽而進(jìn)一步生長(zhǎng)，又因此孢子極小，容易隨流動(dòng)的空氣傳播，一旦生長(zhǎng)環(huán)境條件適宜，即形成為污染，對(duì)設(shè)備的性能產(chǎn)生影響。
溫度和濕度是霉菌生長(zhǎng)的基本條件，而水分是孢子發(fā)芽的必要條件，物體表面上存在有灰塵或其他親水性物質(zhì)，可以從大氣中吸收足夠的水分和營養(yǎng)，以供孢子發(fā)芽生長(zhǎng)。大量試驗(yàn)證明，造成設(shè)備損壞的大多數(shù)霉菌，發(fā)芽zui適宜溫度在20℃—30℃之間，相對(duì)濕度低于65%時(shí)，孢子就不會(huì)發(fā)芽生長(zhǎng)；大于此值時(shí)，濕度越大，生長(zhǎng)越快。
長(zhǎng)霉對(duì)產(chǎn)品的影響主要有以下三個(gè)方面：
原發(fā)性影響：霉菌即使對(duì)材料只發(fā)生輕微的損害，絕緣材料表面由于濕潤(rùn)的菌絲層形成導(dǎo)電通路而大幅度降低絕緣電阻，嚴(yán)重地會(huì)引起電路頻率和阻抗特性發(fā)生重大的變化。材料一旦受到霉菌侵蝕會(huì)導(dǎo)致機(jī)械強(qiáng)度下降和其他物理性能的變化。
繼發(fā)性影響：霉菌在材料上生長(zhǎng)，能夠產(chǎn)生有機(jī)酸和其他電解質(zhì)等代謝產(chǎn)物，而對(duì)材料產(chǎn)生繼發(fā)性影響。這種侵蝕會(huì)導(dǎo)致材料電解和老化。又因菌絲體具有吸水作用，形成了飽和的海綿層，即使外界濕度很低，菌絲體仍能在試驗(yàn)體內(nèi)維持高濕狀態(tài)，導(dǎo)致元件受潮損壞。長(zhǎng)霉即有損新產(chǎn)品外觀，又伴有難聞的霉味。
關(guān)聯(lián)性影響：由于現(xiàn)代化設(shè)備的微型結(jié)構(gòu)和相互聯(lián)結(jié)，設(shè)備的一處長(zhǎng)霉可能會(huì)對(duì)不允許長(zhǎng)霉的其他元件和微型件產(chǎn)生影響。因此，當(dāng)考慮對(duì)單一分組件或元件的直接或間接影響時(shí)，必須對(duì)整機(jī)性能可能產(chǎn)生的影響給予評(píng)定。
長(zhǎng)霉試驗(yàn)通常限于檢驗(yàn)是否用了適當(dāng)?shù)脑筒牧?。通過材料元件、零部件或小的組合件等試驗(yàn)，很容易正確地獲得所需要的許多重要數(shù)據(jù)；長(zhǎng)霉試驗(yàn)是對(duì)試驗(yàn)新產(chǎn)品準(zhǔn)備運(yùn)行非常有利霉菌生長(zhǎng)條件下所作的zui后檢測(cè)。通過試驗(yàn)可以檢測(cè)出具有良好設(shè)計(jì)性能的產(chǎn)品發(fā)生任何故障的性質(zhì)。
綜上所述，長(zhǎng)霉（霉菌）試驗(yàn)是鑒定樣品及其材料在有利于霉菌生長(zhǎng)的氣候條件下的長(zhǎng)霉程度和由于長(zhǎng)霉引起的表面變化和性能影響。
交變霉菌試驗(yàn)箱是讓試驗(yàn)樣品在一個(gè)理想的，適宜霉菌孢子快速生長(zhǎng)的氣候環(huán)境中，人為考核試驗(yàn)樣品及其結(jié)構(gòu)材料的抗霉性能，及長(zhǎng)霉對(duì)試驗(yàn)樣品電氣、機(jī)械性能影響的試驗(yàn)設(shè)備。
本公司技術(shù)部按照《GB10588—89；長(zhǎng)霉試驗(yàn)箱的技術(shù)條件》及其它相關(guān)環(huán)試標(biāo)準(zhǔn)中的要求（例如：試驗(yàn)方法中規(guī)定的有關(guān)試驗(yàn)箱*的技術(shù)條件等），結(jié)合自身的技術(shù)特點(diǎn)、設(shè)計(jì)制造的夾套式“交變霉菌試驗(yàn)箱”符合上述標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，達(dá)到國標(biāo)及國軍標(biāo)的要求，能夠按照《電工電子產(chǎn)品方法：GB2423.16—2008試驗(yàn)J—長(zhǎng)霉試驗(yàn)方法》和《GJB150.10—2009，軍用設(shè)備霉菌試驗(yàn)》、《GJB4.10-83艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)霉菌試驗(yàn)》進(jìn)行長(zhǎng)霉試驗(yàn)。
結(jié)構(gòu)
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